Surface and interface analysis of PTCDA/ITO using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

	Surface and interface analysis of PTCDA/ITO using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
	Ou, GP; Song, Z; Gui, WM; Zhang, FJ
刊名	SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS/光谱学与光谱分析
	2006-04
卷号	26 期号:4 页码:753-756
关键词	surface and interface X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) PTCDA/ITO
ISSN号	1000-0593
其他题名	PTCDA／ITO表面和界面的X射线光电子能谱分析
通讯作者	Zhang, FJ (reprint author), Lanzhou Univ, Sch Phys Sci & Technol, Lanzhou 730000, Peoples R China.
中文摘要	利用X射线光电子能谱对PTCDA/p-Si有机/无机光电探测器中PTCDA/ITO表面和界面进行了测试分析。结果表明,环上的C原子的结合能为284.6 eV,酸酐中的C原子的结合能为288.7 eV,并存在来源于ITO膜中的氧对C原子的氧化现象,界面处C(1s)谱中较高结合能峰消失,且峰值向低结合能发生化学位移;C O键中O原子的结合能为531.5 eV,C—O—C键中的O原子的结合能为533.4 eV。
学科主题	Spectroscopy
语种	中文
WOS记录号	WOS:000237163500040
内容类型	期刊论文
源URL	[http://202.201.7.4/handle/262010/104053]
专题	物理科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	Ou, GP,Song, Z,Gui, WM,et al. Surface and interface analysis of PTCDA/ITO using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)[J]. SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS/光谱学与光谱分析,2006,26(4):753-756.
APA	Ou, GP,Song, Z,Gui, WM,&Zhang, FJ.(2006).Surface and interface analysis of PTCDA/ITO using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS/光谱学与光谱分析,26(4),753-756.
MLA	Ou, GP,et al."Surface and interface analysis of PTCDA/ITO using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)".SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS/光谱学与光谱分析 26.4(2006):753-756.