Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析

CORC > 西北工业大学

	Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析
	张连东 ; 聂中明 ; 傅莉 ; 查钢强 ; 介万奇
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GNCL200806048&dbname=CJFQ2008
	2012-04-24 ; 2012-04-24
关键词	CdZnTe晶片化学镀金接触电阻率测量 CdTeO3界面层
中文摘要	采用化学镀金法在高阻p-CZT(CdZnTe)晶片表面制备Au电极,并用改进的圆环传输线模型(Ring-CTLM)测量了CZT电极的接触电阻,探讨了大气气氛下退火温度对CZT电极欧姆特性的影响。实验结果表明,200℃退火可以显著改善欧姆特性,使接触电阻率cρ显著减小,采用Ring-CTLM模型测得CZT与金电极接触电阻率为0.1524Ω.cm2。通过XPS分析了CZT与Au电极接触界面的成分,发现在Au/p-CdZnTe界面处形成了CdTeO3层,该界面层可起到载流子复合中心的作用,构建的新模型很好地解释了化学镀金法在p-CdZnTe晶片表面形成欧姆接触的机理。
语种	中文
出版者	功能材料
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ircloud.calis.edu.cn/hdl/261030/214]
专题	西北工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张连东,聂中明,傅莉,等. Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GNCL200806048&dbname=CJFQ2008,2012, 2012.
APA	张连东,聂中明,傅莉,查钢强,&介万奇.(2012).Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GNCL200806048&dbname=CJFQ2008.
MLA	张连东,et al."Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=GNCL200806048&dbname=CJFQ2008 (2012).