拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应

CORC > 清华大学

	拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应
	张翼 ; 何珂 ; 马旭村 ; 薛其坤
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLZZ201107004&dbname=CJFQ2011
	2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词	拓扑绝缘体 Bi2Se3 分子束外延角分辨光电子能谱扫描隧道显微镜
中文摘要	拓扑绝缘体是近年来发现的一类新的量子材料,已成为凝聚态物理的研究热点领域.厚度仅几纳米的拓扑绝缘体薄膜不但具有奇特的物理性质,而且还是拓扑绝缘体应用于平面器件的基础.文章以Bi2Se3为例,介绍了Bi2Se3家族拓扑绝缘体薄膜的分子束外延生长以及其能带、自旋结构和拓扑性质随层厚的演化.这些结果为人工调控拓扑绝缘体的电子结构和物理性质提供了指导.
语种	中文
其他责任者	中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室 ; 清华大学物理系低维量子物理国家重点实验室
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/1889]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张翼,何珂,马旭村,等. 拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLZZ201107004&dbname=CJFQ2011,2012, 2012.
APA	张翼,何珂,马旭村,&薛其坤.(2012).拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLZZ201107004&dbname=CJFQ2011.
MLA	张翼,et al."拓扑绝缘体薄膜和有限尺寸效应".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLZZ201107004&dbname=CJFQ2011 (2012).