CORC  > 清华大学
提高线阵CCD测量光束中心位置精密度的方法
朱鹤年 ; 张子良 ; 常缨 ; 房元峰 ; 王长江
刊名http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=JLXB200603003&dbname=CJFQ2006
2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词计量学 光束宽度 高斯分布 截尾分布 加权回归
中文摘要用线阵CCD测量类钟形分布的光束中心位置时,常用高斯分布模型和最小二乘(LSM)回归计算。提出一种用准高斯分布以提高测量灵敏度、用截取阈值较高的方式以减少噪声影响、用加权LSM回归以提高精密度的方法。由于高斯曲线拟合时的因变量不等权,选用加权回归和等权回归相比,ADC化整误差和光电测量误差的影响将减小一个数量级。根据CCD器件的参数,能够确定像元数据的误差限值。再用蒙特卡罗法模拟误差分布规律,通过截尾分布数值的加权回归,求出使测量精密度提高的合理光束宽度范围。已将此方法用于冲击电流计的改进设计和位移测量,使微电流测量的精密度提高达两个数量级,并使30 mm内的微位移测量的非线性标准差不大于0.0025%。
语种中文
其他责任者清华大学物理系 ; 清华大学物理系 北京100084 ; 北京100084
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/1733]  
专题清华大学
推荐引用方式
GB/T 7714
朱鹤年,张子良,常缨,等. 提高线阵CCD测量光束中心位置精密度的方法[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=JLXB200603003&dbname=CJFQ2006,2012, 2012.
APA 朱鹤年,张子良,常缨,房元峰,&王长江.(2012).提高线阵CCD测量光束中心位置精密度的方法.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=JLXB200603003&dbname=CJFQ2006.
MLA 朱鹤年,et al."提高线阵CCD测量光束中心位置精密度的方法".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=JLXB200603003&dbname=CJFQ2006 (2012).
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace