一种相似材料模型变形的光学图像监测装置 | |
朱晓峻 ; 郭广礼 ; 查剑锋 ; 郭庆彪 ; 钱志 | |
2015-09-01 ; 2015-09-01 | |
关键词 | 相似材料 模型 变形 光学图像 |
中文摘要 | 本实用新型涉及一种相似材料模型变形的光学图像监测装置,相似材料模型吻合嵌放在相似材料模型架上,相似材料模型架的上部固定设有横支架,横支架上固定有摄像机支架,摄像机支架上放置有摄像机,相似材料模型上装有发光二极管;所述竖直支架的上部吻合嵌有聚光镜支架,聚光镜支架上设有聚光镜,相似材料模型架的后面设有一个贴有白纸的光屏,光屏上贴有若干个同心圆控制点。该监测装置可以通过常规数码照相、聚光镜放大成像和图像处理技术来实现全自动高精度实时地监测,并可以及时获取试验过程的监测数据,获取的数据更加精确,不需要人为干预,给相似材料模型位移测量带来了很大的便利。; 专利类型: 实用新型 申请(专利)号: CN201320155141.1 申请日期: 2013年4月1日 公开(公告)日: 2013年9月4日 公开(公告)号: CN203177812U 主分类号: G01B11/16,G01B11/00,G,G01,G01B,G01B11 分类号: G01B11/16,G01B11/00,G,G01,G01B,G01B11,G01B11/16,G01B11/00 申请(专利权)人: 中国矿业大学 发明(设计)人: 朱晓峻,郭广礼,查剑锋,郭庆彪,钱志,彭克祥 主申请人地址: 221000 江苏省徐州市中国矿业大学南湖校区环测学院B402 专利代理机构: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 高桂珍 国别省市代码: 江苏;32 主权项: 一种相似材料模型变形的光学图像监测装置,该监测装置包括数据线(1)、摄像机支架(2)、摄像机(3)、横支架(4)、发光二极管(5)、聚光镜(6)、聚光镜支架(7)、同心圆控制点(8)、相似材料模型架(9)、相似材料模型(10)、竖直支架(11)及光屏(12),其特征在于,所述相似材料模型(10)吻合嵌放在相似材料模型架(9)上,相似材料模型架(9)的上部固定设有横支架(4),横支架(4)上固定有摄像机支架(2),摄像机支架(2)上放置有摄像机(3),摄像机(3)通过数据线(1)与电脑连接,相似材料模型(10)上装有发光二极管(5);所述竖直支架(11)的上部吻合嵌有聚光镜支架(7),聚光镜支架(7)上设有聚光镜(6),相似材料模型架(9)的后面设有一个贴有白纸的光屏(12),光屏(12)上贴有若干个同心圆控制点(8)。 法律状态: 授权 ,授权 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 其他 |
源URL | [http://ir.calis.edu.cn/hdl/232060/10717] |
专题 | 中国矿业大学(徐州) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱晓峻,郭广礼,查剑锋,等. 一种相似材料模型变形的光学图像监测装置. 2015-09-01, 2015-09-01. |
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