基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用

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	基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用
	侯尚国; 王坤; 王丽华; 黄庆; 邓素辉
刊名	中国科学:化学
	2015
期号	11 页码:1206-1213
关键词	超分辨成像时间门纳米显微镜受激发射损耗显微镜
ISSN号	1674-7224
中文摘要	很久以来,光学显微镜的分辨率受限于光学衍射极限.最近几年,发展了很多突破光学衍射极限的技术方法.其中,受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜因能够提供超快超高的分辨率而备受关注.在这类方法中,脉冲式STED分辨率较高但搭建复杂;连续光STED虽然搭建简单,但分辨率有所下降;时间门调制STED(gated-STED,g STED)在简化STED搭建的同时,又可以实现与脉冲式STED相比拟的分辨率.本文详细介绍了时间门在STED纳米显微镜中的应用.
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25451]
专题	上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年
作者单位	中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	侯尚国,王坤,王丽华,等. 基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用[J]. 中国科学:化学,2015(11):1206-1213.
APA	侯尚国,王坤,王丽华,黄庆,&邓素辉.(2015).基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用.中国科学:化学(11),1206-1213.
MLA	侯尚国,et al."基于时间门技术的纳米显微镜原理及应用".中国科学:化学 .11(2015):1206-1213.