一个检测半导体激光器质量的有效方法

	一个检测半导体激光器质量的有效方法
	石家纬 ; 金恩顺 ; 李红岩 ; 李正庭 ; 郭树旭 ; 高鼎三 ; 余金中 ; 郭良
刊名	半导体学报
	1996
卷号	17 期号:8 页码:595
中文摘要	对一百支PBC结构的InGaAsP/InP激光器的检测表明,通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选.
学科主题	半导体器件
收录类别	CSCD
语种	中文
公开日期	2010-11-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19635]
专题	半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	石家纬,金恩顺,李红岩,等. 一个检测半导体激光器质量的有效方法[J]. 半导体学报,1996,17(8):595.
APA	石家纬.,金恩顺.,李红岩.,李正庭.,郭树旭.,...&郭良.(1996).一个检测半导体激光器质量的有效方法.半导体学报,17(8),595.
MLA	石家纬,et al."一个检测半导体激光器质量的有效方法".半导体学报 17.8(1996):595.