980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析

	980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析
	刘媛媛; 刘斌
刊名	激光杂志
	2002
卷号	23 期号:5 页码:1-2
中文摘要	本文介绍了提高980 nm半导体激光器可靠性的几种方案，并做了综合评述。进一步介绍了离子辅助镀膜技术在提高980 nm激光器可靠性方面的应用。
学科主题	半导体器件
收录类别	CSCD
语种	中文
公开日期	2010-11-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17965]
专题	半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	刘媛媛,刘斌. 980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析[J]. 激光杂志,2002,23(5):1-2.
APA	刘媛媛,&刘斌.(2002).980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析.激光杂志,23(5),1-2.
MLA	刘媛媛,et al."980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析".激光杂志 23.5(2002):1-2.