BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测

	BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测
	张艳硕; 伍灵慧; 董燎原; 顾运厅
刊名	核电子学与探测技术
	2013
期号	2 页码:234-239
关键词	北京谱仪BESⅢ漂移室击中效率噪声率高压丢失
中文摘要	研究了BESⅢ漂移室(MDC)时间测量道的性能,包括空间分辨、动量分辨、击中效率、噪声率和Bhabha事例重建效率等。并用2011年的Bhabha事例样本对MDC性能作了run by run监测,研究了引起数据质量变化的各种因素。另外还研究了工作高压丢失(trip)对MDC性能的影响,此外,为了提高数据质量开发了相应软件包以去掉受高压丢失影响的事例。
公开日期	2016-02-26
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219222]
专题	高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式 GB/T 7714	张艳硕,伍灵慧,董燎原,等. BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测[J]. 核电子学与探测技术,2013(2):234-239.
APA	张艳硕,伍灵慧,董燎原,&顾运厅.(2013).BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测.核电子学与探测技术(2),234-239.
MLA	张艳硕,et al."BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测".核电子学与探测技术 .2(2013):234-239.