半导体激光器热弛豫时间测试技术研究

	半导体激光器热弛豫时间测试技术研究
	陈晨 ; 辛国锋 ; 刘锐 ; 瞿荣辉 ; 方祖捷
刊名	光子学报
	2006
卷号	35 期号:8 页码:1142
关键词	激光技术半导体激光器热弛豫时间时间分辨光谱
ISSN号	1004-4213
其他题名	Measurement of thermal relaxation time of semiconductor lasers
中文摘要	利用脉冲工作状态下半导体激光器激射光谱随结温升高发生红移的原理，用Boxcar扫描在一定波长下的半导体激光器光功率随脉冲时间的变化信号，测得其时间分辨光谱；根据对应的峰值光功率出现时刻随波长变化的曲线，计算得到热弛豫时间参量值．利用此方法对一种半导体激光器进行了测试，得到其热弛豫时间为1．2ms．
学科主题	激光器;半导体激光器
分类号	TN248
收录类别	ei
语种	中文
公开日期	2009-09-18
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/1334]
专题	上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	陈晨,辛国锋,刘锐,等. 半导体激光器热弛豫时间测试技术研究[J]. 光子学报,2006,35(8):1142, 1145.
APA	陈晨,辛国锋,刘锐,瞿荣辉,&方祖捷.(2006).半导体激光器热弛豫时间测试技术研究.光子学报,35(8),1142.
MLA	陈晨,et al."半导体激光器热弛豫时间测试技术研究".光子学报 35.8(2006):1142.