Synchrotron radiation x-ray multilayer film synthetic polarization measuring apparatus

	Synchrotron radiation x-ray multilayer film synthetic polarization measuring apparatus
	Cui MQ(崔明启); Sun LJ(孙立娟); Xue S(薛松); Zhu J(朱杰)
	2009-03-17
专利号	HK1124659A1
公开日期	2011-03-18
内容类型	专利
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/211300]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
作者单位	中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	Cui MQ,Sun LJ,Xue S,et al. Synchrotron radiation x-ray multilayer film synthetic polarization measuring apparatus. HK1124659A1. 2009-03-17.