ANALYSIS FOR STEADY-STATE FIELD-EFFECT MEASUREMENTS ON A-SI-H FILMS

	ANALYSIS FOR STEADY-STATE FIELD-EFFECT MEASUREMENTS ON A-SI-H FILMS
	LIAO XB ; LIAN JY ; KONG GL
刊名	physica status solidi a-applied research
	1985
卷号	88 期号:2 页码:697-704
ISSN号	0031-8965
学科主题	半导体材料
收录类别	SCI
语种	英语
公开日期	2010-11-15
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/14743]
专题	半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	LIAO XB,LIAN JY,KONG GL. ANALYSIS FOR STEADY-STATE FIELD-EFFECT MEASUREMENTS ON A-SI-H FILMS[J]. physica status solidi a-applied research,1985,88(2):697-704.
APA	LIAO XB,LIAN JY,&KONG GL.(1985).ANALYSIS FOR STEADY-STATE FIELD-EFFECT MEASUREMENTS ON A-SI-H FILMS.physica status solidi a-applied research,88(2),697-704.
MLA	LIAO XB,et al."ANALYSIS FOR STEADY-STATE FIELD-EFFECT MEASUREMENTS ON A-SI-H FILMS".physica status solidi a-applied research 88.2(1985):697-704.