| 题名 | 萃取色层法在~(233)U提取流程中分析的应用研究 |
| 作者 | 史万龙 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2015 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院（上海应用物理研究所） |
| 导师 | 张岚 |
| 关键词 | 钍 萃取色谱树脂 基体干扰 ICP-MS 铀 裂片元素 |
| 中文摘要 | 本论文重点研究了两种萃取色谱树脂（TEVA和UTEVA）在233U提取流程中分析的应用。TEVA树脂和UTEVA树脂是两种专一性较好和分离速率较快的树脂，可以从基体中快速地分离出微量元素，然后使用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）准确测量。论文研究了TEVA树脂在水相废液（1AW）中铀的分离、TEVA+UTEVA树脂串联柱在料液（1AF）中裂片元素的分离等。研究表明，萃取色谱树脂应用于233U提取流程中微量元素预分离将具有许多优越性。论文的主要研究工作和研究结果如下： 1.测定了硝酸介质中钍和铀在TEVA树脂上的吸附平衡时间。结果表明，在硝酸介质中，钍在TEVA树脂上60min后吸附基... |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-12-24 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/24199]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 史万龙. 萃取色层法在~(233)U提取流程中分析的应用研究[D]. 中国科学院研究生院（上海应用物理研究所）. 2015. |
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