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科研机构
高能物理研究所 [1]
近代物理研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2016 [1]
2008 [1]
学科主题
Instrument... [1]
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Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy
期刊论文
MICRON, 2016, 卷号: 88, 页码: 54-59
作者:
Xi, Shouzhi
;
Guo, Na
;
Jie, Wanqi
;
Du, Guanghua
;
Shen, Hao
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提交时间:2018/05/31
Proton
Radiation damage
Ion beam induced charge microscopy
CdZnTe
Bias dependent
The CMS experiment at the CERN LHC
期刊论文
JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2008, 卷号: 3
作者:
CMS Collaboration
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浏览/下载:1810/0
  |  
提交时间:2015/12/02
RESISTIVE PLATE CHAMBERS
LEAD TUNGSTATE CRYSTALS
CATHODE STRIP CHAMBERS
ENDCAP ELECTROMAGNETIC CALORIMETER
PBWO4 SCINTILLATING CRYSTALS
MUON SOLENOID EXPERIMENT
LONG-TERM PERFORMANCE
PROTON-INDUCED DAMAGE
LEVEL GLOBAL TRIGGER
SILICON SENSORS
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